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高低温试验箱的试验严酷等级随下列因素而增加：温差的增大、温度变化速率的加快、更快的热传递机理，应规定所需的试验样品性能数据量相对应的最低严酷等级的试验，试验N优先用作序列试验的一部分，有些类型的损坏，不能在试验N的最后测量中显示出来，而只在随后的试验期间才有所表现，例如：试验Q：密封（GB/T 2423.23）、试验Fc和导则：振动（正弦GB/T 2423.10）试验Ca：恒定湿热（GB/T 2423.3）、试验Db：交变湿热（GB/T 2423.4），只要可能，条件试验时间应该这样规定：即按每天的工作时间或24h所配置的总循环次数，并照顾到恢复时间和最后检测的时间，如出于某种原因，避免在夜间转换而影响检测，有必要将试验样品继续在试验箱中保留此规定暴露在大气中时间较长的时间时，则应保留在低温箱中，因较长时间暴露在热大气环境中可产生老化效应，规定温度变化试验时，应考虑受试物品的性质及其在温度变化条件影响下可能损坏的机理，并据此来确定初始检测和最后检测的项目，有某些情况下，只考虑机械损坏就够了，尤其是对受试的设备，则应首先考虑在温度变化试验其间的性能检测。

（A）为示意图TZ-接枝硅纳米线的制备开发的逐步官能团转化的摘要。 （B至d）逐步地官能化硅纳米线的X射线光电子能谱：裸硅纳米线（蓝色），SH-接枝硅纳米线（橙色），NH 2接枝硅纳米线（绿色），和Tz的接枝的硅纳米线（红色）：（B）的调查扫描，（C）的高分辨率XPS在S 2P信号的能量范围的光谱，和（d）高分辨率光谱在N 1S信号的能量范围。 （E）方案通过生物正交结扎成功制备TZ-接枝硅纳米线的分别与Cy5标记TCO（2.6毫摩尔）和由DTT二硫化物断开（50毫摩尔），的验证。荧光图像是通过荧光显微镜（尼康90I，λex=六十○分之六百二十〇）对（F）TZ-接枝硅纳米线捕获，（G）的Cy5接枝硅纳米线，和（H）二硫化物裂硅纳米线由DTT处理。 A.U.，任意单位。